連載 2017年5月25日 不良解析レポートを理解するための基礎知識 ―― 一次物理解析&電気的特性評価(関連情報):マイコン講座 不良解析編(1) [菅井賢(STマイクロエレクトロニクス),EDN Japan] 記事を見る 記事を見る