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セラミックキャパシター(5) ―― 高誘電率系キャパシターの温度特性中堅技術者に贈る電子部品“徹底”活用講座(49)(3/3 ページ)

高誘電率系のキャパシターの温度特性について説明します。この種のキャパシターの温度特性は数式で変化の様子を表すことができません。したがって図表や文章での説明が主体になります。

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(参考)EIA規格によるクラスIIキャパシターの表示法

 クラスIIのキャパシターは、IEC規格の調和規格であるJIS-5101-22:2014においても市場の要求として付属書C(参考)で紹介されています。
 EIA-RS-198規格のクラスIIキャパシターの温度特性も3桁のコードを使用していますがJIS/IECのコードとは重複しないので混用することはないでしょう。記号の読み方は次の通りです。

  1. 最初の文字は低温側の動作温度を示す文字です。
  2. 2番目の数字は高温側の動作温度を示し、
  3. 最後の文字はその温度範囲における容量の変化を示します。
表6:EIA RS-198の記号システム
クラスIIセラミックキャパシター EIA RS-198 の温度範囲と容量変化に関する文字コードシステム
1桁目 2桁目 3桁目
低温側文字コード 上限温度の数値コード 温度範囲域での容量変化の文字コード
X=−55℃ 2=+45℃ P:±10%
Y=−30℃ 4=+65℃ R:±15%
Z=+10℃ 5=+85℃ S:±22%
  6=+105℃ T:+22/−33%
  7=+125℃ U:+22/−56%
  8=+150℃ V:+22/−82%
  9=+200℃  
その他の容量変化幅はA=±1%、B=±1.5%、C=±2.2%、D=±3.3%、E=±4.7%、F=±7.5%があります。
またメーカーオプション記号もあるようです

 例えば、Z5Uのキャパシターは+10℃から+85℃の温度範囲で容量変化率は最大で+22%から−56%の容量変化となり、X7Rのキャパシターは−55℃から+125℃の温度範囲で最大±15%の容量変化になります。

 一般的に使用されているクラスIIセラミックキャパシター材料のいくつかを以下に示します。
 多くのケースでEIAからJIS/IEC品への置き換えは可能ですが全く同じというケースは少なく、多少の差異が存在します。しかし、この差異は設計時の配慮で吸収できるものと考えられます。

表7:EIAによる温度特性の呼称例
EIA呼称 下限温度(℃) 上限温度(℃) 変化幅(%) JIS該当品&コメント
X5R −55 +85℃ ±15 2B2(±10%)、2C2(±20%)、2R2(チップ)
X7R −55 +125 ±15 2R1
X8R −55 +150 ±15 2R0(チップ)
X6S −55 +105 ±22 2C1(+125℃、±20%)、2C2(+85℃、±20%)
X7S −55 +125 ±22 2C1(±20%)
Y5V −30 +85 +22/−82 2F4(−25℃、+30/−80%)
Z5U +10 +85 +22/−56 2E6

EIA規格による温度特性測定手順

 注)EIA規格には電圧印加モードはありません。

表8:EIA RS-198温度特性手順書
手順a 手順b 手順c 手順d
Ta=25±2℃ 適用下限温度±2℃ Ta=25±2℃ 適用上限温度±2℃

執筆者プロフィール

加藤 博二(かとう ひろじ)

1951年生まれ。1972年に松下電器産業(現パナソニック)に入社し、電子部品の市場品質担当を経た後、電源装置の開発・設計業務を担当。1979年からSPICEを独力で習得し、後日その経験を生かして、SPICE、有限要素法、熱流体解析ツールなどの数値解析ツールを活用した電源装置の設計手法の開発・導入に従事した。現在は、CAEコンサルタントSifoenのプロジェクト代表として、NPO法人「CAE懇話会」の解析塾のSPICEコースを担当するとともに、Webサイト「Sifoen」において、在職中の経験を基に、電子部品の構造とその使用方法、SPICE用モデルのモデリング手法、電源装置の設計手法、熱設計入門、有限要素法のキーポイントなどを、“分かって設計する”シリーズとして公開している。


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