Tales from the Cube:
Dave Pfaltzgraff (米Pitchfork Solutions社) , EDN
Harold Stiltner (米Ingersoll Rand Climate Solutions社) , EDN
Tales from the Cube:
故障が発生したとの連絡を受け、修理に向かった筆者。しかし、なぜか不良品を増やしてしまうという結果に……。不具合が“伝染”した、摩訶不思議な体験とは?
Sujit Liddle , EDN
Jim Zannis , EDN
Paul Breed(米NetBurner社) , EDN
Benoit Leveille , EDN
Jeff Fries(米GE Transportation社) , EDN
Tales from the Cube:
Jeff Fries(米GE Transportation社) , EDN
Holger Steffens(ドイツIdent Technology社) , EDN
Richard Rice , EDN
Tales from the Cube:
Roy Gardner , EDN
Tales from the Cube:
Ron Tipton(米TDL Technology社) , EDN
Larry Baxter(Capsense.com) , EDN
Thomas Black(米Digital Products社) , EDN
Glen Chenier , EDN
Tales from the Cube:
David R Bryce(米Dataram社) , EDN
Tales from the Cube:
Hugh Shane Mitre , EDN
Tales from the Cube:
Stephen Tomporowski(米Kaman Measuring Systems社) , EDN
Tales from the Cube:
−40℃、25℃、125℃の3条件で試験をした際には何の不具合も起きなかったシステム。トラブルの原因は一体何なのか。
Clark Robbins(米GS Engineering社) , EDN
Tales from the Cube:
Martin DeLateur(コンサルタント) , EDN
Tales from the Cube:
Pierre Renaud , EDN
Tales from the Cube:
Steve Lubs(米国国防総省) , EDN
Tales from the Cube:
Jim Sylivant , EDN
Tales from the Cube:
Jeff Fries(GE Transportation社) , EDN
Tales from the Cube:
John Linstrom(米S&K Electronics社/Sunspot社) , EDN
Tales from the Cube:
Chris Lee(米Cheshire Engineering社) , EDN
Tales from the Cube:
Clark Robbins(米GS Engineering社) , EDN
Tales from the Cube:
「分かっているつもり」――。それはエンジニアのみならず、多くの人にとって危険な言葉でもある。今回は、この“魔の言葉”が原因であった不具合事例について紹介する。
Kenneth Ciszewski(米Tech Electronics社) , EDN
Martin Delateur(電子工学エンジニア) , EDN
Dick Neubert(電子工学エンジニア) , EDN
Tales from the Cube:
Reed P Tidwell氏(米Xilinx社) , EDN