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テスト/計測

キーサイトの無線共存テストソリューション(Wireless Coexistence Test Solution:WCTS)は、混雑したRF環境における無線機器の性能検証に向けたスケーラブルなプラットフォームだ。

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キーサイト・テクノロジーは、高速デジタル検証およびコンプライアンステスト向けのリアルタイムオシロスコープ「Infiniium XR8」を発表した。数日を要していたテスト作業を数時間に短縮できる。

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ローデ・シュワルツは、最高44GHzの周波数に対応するスペクトラムアナライザー「R&S FPL1044」を発売した。全シリーズで利用可能なリアルタイムスペクトラム解析オプション「R&S FPL1-K41R」も用意する。

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キーサイト・テクノロジーは、電気自動車(EV)充電テストソリューション「SL2600A」「SL1047A」を発表した。SL2600Aは、大型車両向けメガワット充電の検証に対応可能だ。

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テクシオ・テクノロジーは、6 1/2桁分解能で直流2kVまで測定できるデジタルボルトメーター「GVM-9102」の販売を開始した。1000V超の高電圧域でも基本確度0.01%を確保している。

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Pickering Interfacesは、MEMSスイッチを採用した車載Ethernet向け欠陥生成ユニットを発表した。MultiGBASE-T1リンクの一般的な故障を再現し、最大10GbpsでのHILシミュレーションによる設計検証を可能にする。

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ローデ・シュワルツは、サーマルRFパワーセンサー「R&S NRP150T」を発表した。0.80mm同軸RFコネクターを搭載し、最大150GHzまでの周波数に対応できる。

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キーサイト・テクノロジーは、120MHzのギャップレスIQストリーミングに対応した、ハンドヘルドアナライザー「N99xxD」シリーズを発表した。RF環境での信号解析を用途に想定している。

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リガクは、半導体製造工程においてウエハーの膜厚や組成、バンプ高さを1台で測定できる計測装置「ONYX 3200」の販売を開始した。チップ接点周辺に用いられる複数種の金属を同時に評価できる。

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オキサイドは、半導体検査向けのDUVレーザー「QCW Kalama」シリーズに、波長266nmの高出力モデル(標準8W、最大12W)と波長193nmモデルを追加した。ラインアップ拡充により、検査の高感度化や新分野への応用が可能になる。

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タカヤは、フライングプローブテスター「APT-T400J」シリーズの販売を開始した。治具不要で多品種に対応できる基板電気検査装置で、価格を抑えたスタンダードモデルだ。

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Wooptixは、サブナノメートルの分解能でウエハーの形状や幾何特性を測定する計測システム「Phemet」を発表した。単一画像で1秒間に1600万超のデータポイントを取得できる。

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ピカリング インターフェースは、12スロットのLXI、USBモジュラー型シャーシ「60-107-001」を発表した。PXI、PXIeモジュールに対応し、同社従来品と比べてモジュール密度が20%向上した。

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キーサイト・テクノロジーは、高出力ATEシステム用電源として、回生型直流電源「RP5900」シリーズ、回生型直流電子負荷「EL4900」シリーズ、システム直流電源「DP5700」シリーズを発表した。

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