インターコネクト試験／検証に対応するアナライザー：テレダイン WavePulser 40iX

テレダイン・ジャパンは、4ポートの高速インターコネクトアナライザー「WavePulser 40iX」を発表した。PCI Express、HDMI、USB、SAS、SATAなどの高速シリアルプロトコル用の相互接続検証やケーブルの特性評価／解析を1台で提供する。

[EDN Japan]

　テレダイン・ジャパンは2019年6月、4ポートの高速インターコネクトアナライザー「WavePulser 40iX」を発表した。PCI Express、HDMI、USB、SAS、SATA、ファイバーチャネル、InfiniBand、ギガビットイーサネット、自動車用イーサネットなどの高速シリアルプロトコル用の相互接続検証やケーブルの特性評価／解析を1台で提供する。

高速インターコネクトアナライザー「WavePulser 40iX」

シングルエンドとミックスモードのSパラメーター測定に対応

　WavePulser 40iXは、DC〜40GHzまでの周波数範囲で、シングルエンドとミックスモードのシミュレーション用Sパラメーター測定に対応する。他に、フィクスチャのデエンベッド、シングルエンドモード、ミックスモードとしての時間領域や周波数領域の表示、アイパターンのシミュレーションが実行できる。

　1度の測定でVNA（ベクトルネットワークアナライザ）のようなSパラメーター周波数特性評価とTDR（time domain reflectometry：時間領域反射）のようなインピーダンスプロファイリングを行い、時間領域と周波数領域の特性を統合して、高速相互接続テストと検証を行う。

左＝セットアップ例／右＝ソフトウェア動作画面（クリックで拡大）

　OSLT校正基準を内蔵し、DUTとの接続を取り外すことなく自動で校正する。ケーブル、チャンネル、コネクター、ビア、バックプレーン、プリント基板、チップ、SoC（System on Chip）パッケージなどを正確に評価し、物理的な信号経路の詳細を正確に解析できる。

　測定したSパラメーターは、タイムゲーティング、インターコネクトのデエンベッド、アイパターン、イコライザーの最適設定、シリアルデータパターンのシミュレーション、成分分離を含む高度なジッタ解析などに使用できる。

　1mm未満の空間分解能を備え、組み立て不良のコネクター、機械的に損傷したケーブル、チャンネル内の不連続箇所などの障害検出にも対応する。