テストスピードが従来比2倍のメモリテスター:アドバンテスト T5835
アドバンテストは、メモリテストシステムの新製品「T5835」を発表した。テストスピードが最大5.4Gビット/秒と従来機の2倍以上となり、パッケージ試験に加えて高速ウエハー試験にも対応する。768個のデバイスを同時に測定可能だ。
アドバンテストは2021年11月、メモリテストシステムの新製品「T5835」を発表した。同年12月末ごろの初号機出荷を予定している。
T5835は、同社の従来機「T5833」の後継品となる。テストスピードが最大5.4Gビット/秒で、T5833の2倍以上となった。NANDフラッシュやDDR-DRAM、LPDDR-DRAMなどを対象としており、パッケージ試験に加えて高速ウエハー試験にも対応した。
メモリテストシステム「T5835」
スループットに優れ、768個のデバイスを同時に測定できる。また、試験の歩留まりを向上する機能として、モバイルメモリ向けに応答速度を高めたデバイス用電源などを備える。
研究開発や多様な量産環境に対応すべく、3種類の大きさのテストヘッドを提供する。さらに、同社が以前から販売しているメモリテスターのシステム構成やOSを継承し、テストプログラムに互換性を持たせている。
- オシロスコープが届いたら最初にすること
今回の連載記事は、オシロスコープの世界的なトップメーカーであるテクトロニクスの協力を得て、初めてオシロスコープを使う人を対象にエントリーモデルの「TBS2000B(2chモデル)」を事例にして基本的な使い方や使用上の注意点を解説していく。
- MIL規格対応PXI/PXIeマルチプレクサモジュール
ピカリング インターフェースは、MIL-STD-1553規格のテストに対応したPXI/PXIeマルチプレクサモジュール「40/42-739」を発表した。航空宇宙および軍用ATEシステム、ビデオ信号向けの75Ωスイッチングアプリケーションに適する。
- USB Type-C規格向けのテストソリューション
テクトロニクスは、「TekExpress テストソリューション」を発表した。「USB4」「Thunderbolt 4」「DisplayPort 2.0」に向けた3種類のソフトウェアを提供し、自動コンプライアンスとデバッグを可能にする。
- PXIe対応の3G〜67GHz RF/マイクロ波PXI製品
ピカリング インターフェースは、周波数範囲3G〜67GHzのPXI RF/マイクロ波スイッチングモジュールを、オプションのPXIeフォーマットでも提供開始する。PXI製品をPXIeでも使用したい場合、同社に連絡することでサポートを受けられる。
Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.