テストスピードが従来比2倍のメモリテスター：アドバンテスト T5835

アドバンテストは、メモリテストシステムの新製品「T5835」を発表した。テストスピードが最大5.4Gビット/秒と従来機の2倍以上となり、パッケージ試験に加えて高速ウエハー試験にも対応する。768個のデバイスを同時に測定可能だ。

[EDN Japan]

　アドバンテストは2021年11月、メモリテストシステムの新製品「T5835」を発表した。同年12月末ごろの初号機出荷を予定している。

　T5835は、同社の従来機「T5833」の後継品となる。テストスピードが最大5.4Gビット/秒で、T5833の2倍以上となった。NANDフラッシュやDDR-DRAM、LPDDR-DRAMなどを対象としており、パッケージ試験に加えて高速ウエハー試験にも対応した。

メモリテストシステム「T5835」

768個のデバイスを同時に測定可能

　スループットに優れ、768個のデバイスを同時に測定できる。また、試験の歩留まりを向上する機能として、モバイルメモリ向けに応答速度を高めたデバイス用電源などを備える。

　研究開発や多様な量産環境に対応すべく、3種類の大きさのテストヘッドを提供する。さらに、同社が以前から販売しているメモリテスターのシステム構成やOSを継承し、テストプログラムに互換性を持たせている。